如何通过频率计测试PAN107的低速时钟的精度？

• 测试仪器：胜利仪器 VC2000
• 测试模块：VG218T240N0S1
• 精度计算工具：链接
• 测试项目：
  • 外部低速晶体32.768KHz精度，测试固件：PAN107-XTL-OUT-P11.hex
  • 内部低速振荡器32KHz精度，测试固件：PAN107-RCL-OUT-P11.hex
• 备注说明
  测试最好在带BLE的例程下面测试，特别是内部RCL需要校准，BLE的例程自带了校准功能，因此可以通过MCU把实际的晶体的波形通过映射到GPIO口输出来方便仪器测量，内部和外部的低速只能映射到P11引脚输出。

外部低速晶体32.768KHz测试

外部晶体的精度依赖外挂的匹配电容的匹配度
软件配置：

void XTL_GPIO_OUT(void)
{
	SYS_delay_10nop(100000);
	CLK-> XTL_CTRL_3V|= CLK_XTLCTL_XTL_EN_Msk_3v;
	while(!(CLK->XTL_CTRL_3V & CLK_XTLCTL_STABLE_Msk)){}
	CLK->CLK_TOP_CTRL_3V |= CLK_TOPCTL_32K_CLK_SEL_Msk_3v;

	SYS_delay_10nop(250);//Delay two 32K clock cycles
	CLK->RCL_CTRL_3V &=~CLK_RCLCTL_RC32K_EN_Msk_3v;
		
	SYS_SET_MFP(P1,1,CLK_32K);
}

实测效果

内部低速振荡器32KHz测试

内部低速RCL振荡器的精度依赖主控的校准算法
软件配置：

void RCL_GPIO_OUT(void)
{
	SYS_delay_10nop(100000);
	CLK->RCL_CTRL_3V |= CLK_RCLCTL_RC32K_EN_Msk_3v;
	while(!(CLK->RCL_CTRL_3V & CLK_RCLCTL_STABLE_Msk)){}
	CLK->CLK_TOP_CTRL_3V &= ~CLK_TOPCTL_32K_CLK_SEL_Msk_3v;
		
	SYS_delay_10nop(250);//Delay two 32K clock cycles
	CLK->XTL_CTRL_3V &= ~CLK_XTLCTL_XTL_EN_Msk_3v;
			
	SYS_SET_MFP(P1,1,CLK_32K);
}

测试效果

精度超出了标称范围